瑞士博勢(shì) Proceq Equotip 550里氏硬度計(jì)
- 產(chǎn)品編號(hào) : Equotip 550
- Proceq推出Equotip 550 Leeb便攜動(dòng)態(tài)里氏硬度計(jì)。用于便攜式硬度測(cè)試的通用的一體化解決方案 Proceq的Equotip儀器自1975年推出以來便成為便攜式硬度測(cè)試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。隨著新一代Equotip 550 Leeb的推出，Proceq再次提高了標(biāo)準(zhǔn)。 新的Proceq Equotip 550 Leeb是將里氏，便攜式Rockwell 和UCI方法相結(jié)合的一體化解決方案，并且將與即將到來的開發(fā)直接兼容。
- 詢價(jià)
產(chǎn)品描述
瑞士博勢(shì) Proceq Equotip 550里氏硬度計(jì)-----于便攜式硬度測(cè)試的通用的一體化解決方案,Proceq推出Equotip 550 Leeb便攜動(dòng)態(tài)里氏硬度計(jì)。用于便攜式硬度測(cè)試的通用的一體化解決方案Proceq的Equotip儀器自1975年推出以來便成為便攜式硬度測(cè)試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。隨著新一代Equotip 550 Leeb的推出，Proceq再次提高了標(biāo)準(zhǔn)。新的Proceq Equotip 550 Leeb是將里氏，便攜式Rockwell 和UCI方法相結(jié)合的一體化解決方案，并且將與即將到來的開發(fā)直接兼容。新一代觸摸屏單元利用高測(cè)量精度和舒適的用戶體驗(yàn)，提高了測(cè)量效率。
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測(cè)量范圍寬 里氏沖擊裝置適合重型，大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。 |
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沖擊裝置及配件 Proceq提供各種沖擊裝置以及支撐環(huán)，以滿足大多數(shù)硬度測(cè)試要求。 |
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廣泛的硬度標(biāo)準(zhǔn)覆蓋率 測(cè)量結(jié)果會(huì)根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換為所有常見的硬度標(biāo)尺（HV， HB，HRC，HRB，HRA，HS）。 |
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測(cè)試塊組合 各種不同硬度的沖擊裝置都有各種各樣的精確硬度測(cè)試塊供常規(guī)驗(yàn)證。 |
覆蓋廣泛的硬度測(cè)試應(yīng)用
Proceq Equotip 550里博裝載了為特定行業(yè)應(yīng)用精心挑選的交互式向?qū)?，以提高可靠性并確保精確的測(cè)量。在Equotip網(wǎng)站上可以找到詳細(xì)的石油與天然氣，汽車，航空航天和鋼鐵工作表以及推薦的測(cè)試方法。Proceq的Equotip 550一體式便攜式硬度測(cè)試儀變得更加強(qiáng)大。自定義您自己的報(bào)告并將用戶定義的信息添加到每個(gè)測(cè)量系列。里氏回彈硬度測(cè)試主要用于重型，大型或已經(jīng)安裝的金屬部件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，但也用于復(fù)合材料，橡膠和巖石的測(cè)試。便攜式羅克韋爾測(cè)試方法特別適用于刮擦，磨光或薄壁部件以及型材和管道。測(cè)量方法的自動(dòng)組合擴(kuò)展了Equotip 550的使用范圍。 Equotip 550是一個(gè)未來的投資，因?yàn)樗梢酝ㄟ^額外的測(cè)試方法和功能進(jìn)行擴(kuò)展。Proceq提供各種沖擊裝置和配件，如支撐環(huán)，測(cè)量夾和適配器，以滿足大多數(shù)硬度測(cè)試要求和樣品幾何形狀。
該儀器提供了一系列特別的功能，有助于加快現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室檢查：
直接在儀器上創(chuàng)建，編輯和驗(yàn)證材料轉(zhuǎn)換曲線等等
現(xiàn)場(chǎng)使用的特殊外殼和受保護(hù)的硬件連接（IP 54）
特別的特點(diǎn) - 杰出的優(yōu)勢(shì)
引導(dǎo)向?qū)岣吡斯に嚳煽啃裕岣吡藴y(cè)量精度
通過模塊化配置定制測(cè)量報(bào)告
觸摸屏功能可以簡(jiǎn)化和提高可用性，并結(jié)合高分辨率顯示器
個(gè)性化的屏幕可以根據(jù)用戶的需求安排信息和視圖
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Equotip 550技術(shù)規(guī)格 |
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原理 |
里氏（動(dòng)態(tài)）：由彈簧壓力推動(dòng)沖擊體，對(duì)測(cè)試件的表面進(jìn)行沖擊，測(cè)量 沖擊體的速度 |
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標(biāo)準(zhǔn) |
ASTM A956， ISO 16859， DIN 50156 |
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測(cè)量時(shí)間 |
短于 1 秒 |
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原始單位 |
HL |
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可用單元 |
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA |
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拓展檢測(cè)方法用 |
Portable Rockwell, UCI |
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探頭 |
D DC DL S E G C |
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可測(cè)對(duì)象 |
極薄對(duì)象、不易接觸對(duì)象、拋光對(duì)象、圓形小對(duì)象、中等大小對(duì)象，非常堅(jiān)硬對(duì)象、大型對(duì)象 |
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顯示屏 |
7” 彩色觸摸屏（800 x 480 像素） |
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內(nèi)存 |
內(nèi)部 8 GB 閃存（> 1’000’000 測(cè)量值） |
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數(shù)據(jù)連接 |
USB，以太網(wǎng)和免費(fèi)軟件 |
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電源 |
可更換電池（> 8 小時(shí)電池使用壽命） |
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語(yǔ)言 |
支持 11 種語(yǔ)言和時(shí)區(qū) |
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個(gè)性化 |
用戶配置文件，用戶視圖 |
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用戶指導(dǎo) |
屏幕提示，向?qū)Ш碗娮邮謨?cè) |
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報(bào)告 |
PC 軟件，直接報(bào)告和自定義報(bào)告 |
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測(cè)量配件 |
16支撐環(huán) |
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校準(zhǔn)塊 |
16測(cè)試塊 |
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Equotip里氏配件 353 03 000套支撐環(huán)356 00 080 Equotip沖擊裝置電纜1.5米（5英尺） 353 00 086 Equotip沖擊裝置電纜5 m（15 英尺）
Equotip里氏沖擊裝置
356 00 500 Equotip里氏沖擊裝置C 356 00 100 Equotip Leeb沖擊裝置D 356 00 110 Equotip Leeb沖擊裝置DC 356 00 120 Equotip Leeb沖擊裝置DL 356 00 400 Equotip里氏沖擊裝置E 356 00 300 Equotip里氏沖擊裝置G 356 00 200 Equotip Leeb沖擊裝置S
由Proceq工廠校準(zhǔn) 357 10 109 Equotip里氏試塊附加校準(zhǔn)HLD / HLDC357 10 129 Equotip里氏試塊附加校準(zhǔn)HLDL 357 10 209 Equotip里氏試塊附加校準(zhǔn)HLS 357 10 409 Equotip里氏試塊附加標(biāo)定HLE 357 10 509 Equotip里氏試塊附加校準(zhǔn)HLC 357 30 309 Equotip里氏試塊附加校準(zhǔn)
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由Proceq公司校準(zhǔn)的Equotip里氏試塊 357 11 500 Equotip測(cè)試塊C，?565 HLC / <220 HB357 12 500 Equotip測(cè)試塊C，?665 HLC /?325 HB 357 13 500 Equotip試塊C，?835 HLC /?56 HRC 357 11 100 Equotip測(cè)試塊D / DC，<500 HLD / <220 HB 357 12 100 Equotip測(cè)試塊D / DC，?600 HLD /?325 HB 357 13 100 Equotip測(cè)試塊D / DC，?775 HLD /?56 HRC 357 13 105 Equotip測(cè)試塊D / DC，?775 HLD，一側(cè) 357 11 120 Equotip測(cè)試塊DL，<710 HLDL / <220 HB 357 12 120 Equotip測(cè)試塊DL，?780 HLDL /?325 HB 357 13 120 Equotip測(cè)試塊DL，?890 HLDL /?56 HRC 357 13 400 Equotip測(cè)試塊E，?740 HLE /?56 HRC 357 14 400 Equotip測(cè)試塊E，?810 HLE /?63 HRC 357 31 300 Equotip測(cè)試塊G，<450 HLG / <200 HB 357 32 300 Equotip測(cè)試塊G，?570 HLG /?340 HB 357 13 200 Equotip測(cè)試塊S，?815 HLS /?56 HRC 357 14 200 Equotip測(cè)試塊S，?875 HLS /?63 HRC
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